基本信息:
- 专利标题： 点温测试系统和点温测试方法
- 申请号：CN202410160921.8 申请日：2024-02-04
- 公开(公告)号：CN118129932A 公开(公告)日：2024-06-04
- 发明人： 程思明 , 常艺文 , 田入凯 , 刘连军 , 陈剑 , 段善宥
- 申请人： 晶科能源（滁州）有限公司
- 申请人地址： 安徽省滁州市来安县经济开发区黎明路18号
- 专利权人： 晶科能源（滁州）有限公司
- 当前专利权人： 晶科能源股份有限公司
- 当前专利权人地址： 334100 江西省上饶市经济技术开发区迎宾大道1号
- 代理机构： 北京晟睿智杰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
- 代理人： 于淼
- 主分类号： G01K7/02
- IPC分类号： G01K7/02 ; G01K1/08
摘要：
本发明公开了一种点温测试系统和点温测试方法，该点温测试系统包括防护罩，防护罩内部设有测温装置，测温装置用于测试待层压件层压时的温度；防护罩置于待层压件的表面；测温装置上的至少两条信号线分别连接有传感器，不同传感器置于待层压件表面的不同位置。本发明采用制作层压件的方式，模拟待层压件进入层压机的层压区域从而测量层压机的层压段温度，实现待层压件层压时的温度收集，进而完成层压机整个层压区域内部的温度采集；针对层压机的层压区域设计一种点温测试系统，监控层压机温度，从而提高层压机的温度均匀性，解决了因为层压温度不均匀造成层压件出现气泡等不良现象的问题，可以提升待层压件层压时测温数据的精准性和便捷性。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01K | 温度测量；热量测量；未列入其他类目的热敏元件 |
| ------G01K7/00 | 以应用直接对热敏感的电或磁性元件为基础的温度测量 |
| --------G01K7/02 | .应用热电元件，例如，热电偶 |