基本信息:
- 专利标题： 一种电子器件生产的自动化测试设备
- 申请号：CN202410236976.2 申请日：2024-03-01
- 公开(公告)号：CN118091302A 公开(公告)日：2024-05-28
- 发明人： 周晓琴
- 申请人： 深圳智汇酷邦科技有限公司
- 申请人地址： 广东省深圳市罗湖区南湖街道嘉北社区人民南路3012号天安国际大厦A801-007
- 专利权人： 深圳智汇酷邦科技有限公司
- 当前专利权人： 深圳智汇酷邦科技有限公司
- 当前专利权人地址： 广东省深圳市罗湖区南湖街道嘉北社区人民南路3012号天安国际大厦A801-007
- 代理机构： 深圳汉林汇融知识产权代理事务所(普通合伙)
- 代理人： 张肖
- 主分类号： G01R31/01
- IPC分类号： G01R31/01 ; B65G27/02 ; G01R1/04 ; G01B21/02 ; G01N3/02 ; B07C5/34 ; B07C5/02 ; B07C5/36 ; G06M1/272 ; G06M7/04
摘要：
本发明涉及电子器件测试的技术领域，公开了一种电子器件生产的自动化测试设备，包括振动盘以及安装在所述振动盘出料口的送料导轨，所述振动盘使电子器件的引脚朝上，所述送料导轨用于承接输送振动盘内的电子器件，还包括设置在送料导轨一侧的支撑台，所述支撑台的端部安装有置于所述送料导轨两侧的检测装置和校正设备。通过振动盘向送料导轨上持续送入电子器件，并使引脚朝上，检测装置推出检测组件作用在电子器件上，并利用探片接触引脚，利用控制装置内的电子器件性能测试模块测试其性能，并且探片升降设置，用于测试引脚的强度和长度。