基本信息:
- 专利标题： 一种微小样品快速定位系统
- 申请号：CN202410249866.X 申请日：2024-03-05
- 公开(公告)号：CN118032819A 公开(公告)日：2024-05-14
- 发明人： 朱化春 , 王杰 , 吉特 , 陈敏 , 彭蔚蔚 , 赵红卫 , 魏向军 , 刘震 , 汪丽华 , 姜泳
- 申请人： 中国科学院上海高等研究院
- 申请人地址： 上海市浦东新区海科路99号
- 专利权人： 中国科学院上海高等研究院
- 当前专利权人： 中国科学院上海高等研究院
- 当前专利权人地址： 上海市浦东新区海科路99号
- 代理机构： 上海智信专利代理有限公司
- 代理人： 宋丽荣
- 主分类号： G01N23/04
- IPC分类号： G01N23/04 ; G01B11/00 ; G01N21/84 ; G01N21/01
摘要：
本发明涉及一种微小样品快速定位系统，其包括：用于发射照明光的照明单元；用于发射定位激光的定位单元；分束器单元；用于发射X射线的X射线模块单元；耦合反射镜；用于将X射线、照明光和定位激光同轴合束共焦于待测样品的聚焦物镜单元；用于采集待测样品的X射线的谱学信息的X射线探测单元；经待测样品反射的照明光和定位激光被聚焦物镜单元收集，通过耦合反射镜反射到分束器单元并进入可见光成像单元，实现对待测样品的实时成像和定位。根据本发明的微小样品快速定位系统，可以在关闭X射线的情况下借助于照明光和定位激光直接快速精准定位目标样品区域，解决现有技术中的X射线谱学测试前通过X射线寻样耗时较长的问题。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N23/00 | 利用未包括在G01N21/00或G01N22/00组内的波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、中子 |
| --------G01N23/02 | .通过使辐射透过材料 |
| ----------G01N23/04 | ..并形成图像 |