基本信息:
- 专利标题： 具有宽X射线光束和周向布置的检测机构的成像系统
- 申请号：CN202280057770.2 申请日：2022-08-23
- 公开(公告)号：CN117881960A 公开(公告)日：2024-04-12
- 发明人： M·斯塔姆 , D·T·尼西犹司 , D·舍德洛克 , J·M·斯达-拉克 , G·C·安德鲁斯 , M·埃赫拉特
- 申请人： 万睿视影像有限公司
- 申请人地址： 美国犹他州
- 专利权人： 万睿视影像有限公司
- 当前专利权人： 万睿视影像有限公司
- 当前专利权人地址： 美国犹他州
- 代理机构： 北京市金杜律师事务所
- 代理人： 酆迅; 郑振
- 优先权： 63/236,191 20210823 US
- 国际申请： PCT/US2022/041219 2022.08.23
- 国际公布： WO2023/028055 EN 2023.03.02
- 进入国家日期： 2024-02-23
- 主分类号： G01N23/04
- IPC分类号： G01N23/04
摘要：
一种用于检查多个物体的成像系统包括x射线源，所述x射线源具有大于或等于阈值光束尺寸的光束宽度。多个物体在相应的受控检查位置由x射线源照射。检测机构适于在相应的受控检查位置中获取所述多个物体的相应图像。检测机构包括围绕中心轴线周向布置的一个或多个检测器。至少一个定位机构适于将所述多个物体移入和移出相应的受控检查位置。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N23/00 | 利用未包括在G01N21/00或G01N22/00组内的波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、中子 |
| --------G01N23/02 | .通过使辐射透过材料 |
| ----------G01N23/04 | ..并形成图像 |