基本信息:
- 专利标题： 配网缺陷分析方法、装置、电子设备及存储介质
- 申请号：CN202311802349.2 申请日：2023-12-25
- 公开(公告)号：CN117856232A 公开(公告)日：2024-04-09
- 发明人： 张嘉慧 , 叶嘉铮 , 蔡上 , 胡红 , 魏存良 , 陈颖聪 , 钟嘉荣 , 李子龙 , 陈智明 , 王永强 , 张桦琦 , 赖华兰 , 黄科 , 谢敏敏
- 申请人： 广东电网有限责任公司 , 广东电网有限责任公司梅州供电局
- 申请人地址： 广东省广州市越秀区东风东路757号;
- 专利权人： 广东电网有限责任公司,广东电网有限责任公司梅州供电局
- 当前专利权人： 广东电网有限责任公司,广东电网有限责任公司梅州供电局
- 当前专利权人地址： 广东省广州市越秀区东风东路757号;
- 代理机构： 北京品源专利代理有限公司
- 代理人： 杨志欣
- 主分类号： H02J3/00
- IPC分类号： H02J3/00 ; H02H7/26 ; H02J13/00
摘要：
本发明公开了一种配网缺陷分析方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：获取配变负荷缺陷信息；获取低电压区电能质量信息；获取配网数据质量信息；获取配网跳闸信息；根据配变负荷缺陷信息、低电压区电能质量信息、配网数据质量信息以及配网跳闸信息进行缺陷分析和预警。能够根据配变负荷缺陷信、低电压区电能质量信息、配网数据质量信息以及配网跳闸信息对配网确定配网存在的缺陷并进行预警，使配网运行更加安全。
IPC结构图谱:
| H | 电学 |
| --H02 | 发电、变电或配电 |
| ----H02J | 供电或配电的电路装置或系统；电能存储系统 |
| ------H02J3/00 | 交流干线或交流配电网络的电路装置 |