基本信息:
- 专利标题： 平板探测器及探测基板
- 申请号：CN202211194363.4 申请日：2022-09-28
- 公开(公告)号：CN117832234A 公开(公告)日：2024-04-05
- 发明人： 陈紫霄 , 李成 , 程锦 , 崔颂 , 黄根 , 孔德玺 , 彭志良 , 张洁 , 周琳 , 王迎姿
- 申请人： 北京京东方光电科技有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司
- 申请人地址： 北京市北京经济技术开发区西环中路8号;
- 专利权人： 北京京东方光电科技有限公司,京东方科技集团股份有限公司
- 当前专利权人： 北京京东方光电科技有限公司,京东方科技集团股份有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市北京经济技术开发区西环中路8号;
- 代理机构： 北京博思佳知识产权代理有限公司
- 代理人： 梁鹏
- 主分类号： H01L27/146
- IPC分类号： H01L27/146
摘要：
本公开提供了一种平板探测器及探测基板。该探测基板包括：衬底；光电转换结构，设于所述衬底的一侧；多个透镜单元，设于所述光电转换结构的入光侧；多个所述透镜单元构成多个透镜单元列，相邻的两个所述透镜单元列错开设置。本公开能够提高成像质量。
IPC结构图谱:
| H | 电学 |
| --H01 | 基本电气元件 |
| ----H01L | 半导体器件；其他类目未包含的电固体器件 |
| ------H01L27/00 | 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件 |
| --------H01L27/02 | .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的；包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的 |
| ----------H01L27/144 | ..由辐射控制的器件 |
| ------------H01L27/146 | ...图像结构 |