基本信息:
- 专利标题： 一种渗铝材料寿命评估方法
- 申请号：CN202410025851.5 申请日：2024-01-08
- 公开(公告)号：CN117825429A 公开(公告)日：2024-04-05
- 发明人： 王卫泽 , 陈雨欣 , 杨挺 , 刘阳光 , 李凯斌 , 涂善东
- 申请人： 华东理工大学
- 申请人地址： 上海市徐汇区梅陇路130号
- 专利权人： 华东理工大学
- 当前专利权人： 华东理工大学
- 当前专利权人地址： 上海市徐汇区梅陇路130号
- 代理机构： 上海智信专利代理有限公司
- 代理人： 宋丽荣
- 主分类号： G01N23/2251
- IPC分类号： G01N23/2251 ; G01N23/20
摘要：
本发明涉及一种渗铝材料寿命评估方法，其包括提供配有能谱仪的扫描电子显微镜；利用扫描电子显微镜对渗铝材料的表面基于渗铝材料的微观形貌进行微观形貌分析，通过微观形貌有无渗铝层脱落来判断是否达到金相报废标准；利用能谱仪获取渗铝材料的截面锌分布情况以基于锌元素在渗铝层中扩散分布来判断其是否直接继续使用。根据本发明的渗铝材料寿命评估方法，微观形貌作为判废标准，锌元素分布扩散作为分级标准，从而对渗铝材料寿命进行评估，具体地，以微观形貌检测以及锌元素分布检测为依据，充分考虑到渗铝材料受锌蚀导致的微观组织变化与性能的关系以及实际生产中锌元素扩散分布与使用寿命的关系，得到了渗铝材料的有效寿命表征方法。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N23/00 | 利用未包括在G01N21/00或G01N22/00组内的波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、中子 |
| --------G01N23/02 | .通过使辐射透过材料 |
| ----------G01N23/225 | ..利用电子或离子微探针 |
| ------------G01N23/2251 | ...使用入射电子束，例如扫描电子显微镜 |