
基本信息:
- 专利标题: 一种倒角卡尺示值检具及其使用方法
- 申请号:CN202311752721.3 申请日:2023-12-19
- 公开(公告)号:CN117824469A 公开(公告)日:2024-04-05
- 发明人: 郭胜 , 邓鹏波 , 丁国 , 王平 , 钟莉 , 张泽辉
- 申请人: 西安航天计量测试研究所
- 申请人地址: 陕西省西安市15号信箱7分箱
- 专利权人: 西安航天计量测试研究所
- 当前专利权人: 西安航天计量测试研究所
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市15号信箱7分箱
- 代理机构: 西安智邦专利商标代理有限公司
- 代理人: 王少文
- 主分类号: G01B5/24
- IPC分类号: G01B5/24
摘要:
本发明涉及检测器具,具体涉及一种倒角卡尺示值检具及其使用方法,解决现有检测器具在测量倒角卡尺示值误差时,采用的倒角标准块测量法,其测量时间长,效率低,并且倒角标准块制造过程繁琐、加工成本较大的技术问题,本发明的检具包括基座、测量滑块、限位件、数显测微尺,长方体结构的基座顶面设置有基座导轨,数显测微尺安装于基座顶面左端,长方体结构的测量滑块通过其上开设的导轨安装孔安装在基座导轨上,测量滑块宽度与基座相同,并且测量滑块左端面与数显测微尺连接,右端面抵接在限位件上,使得基座的右端面与测量滑块的右端面位于同一竖直平面内。
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量 |
------G01B5/00 | 以采用机械方法为特征的计量设备 |
--------G01B5/24 | .用于计量角度或锥度;用于轴线准直检测 |