基本信息:
- 专利标题： 介质信息确定和核废物探测方法、装置、系统及存储介质
- 申请号：CN202311733157.0 申请日：2023-12-15
- 公开(公告)号：CN117607931A 公开(公告)日：2024-02-27
- 发明人： 靳增雪 , 赵崑 , 马志丹 , 刘冬冬 , 胡春煊 , 孟影
- 申请人： 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址： 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 专利权人： 同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人： 同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 代理机构： 中国贸促会专利商标事务所有限公司
- 代理人： 曹蓓
- 主分类号： G01T1/00
- IPC分类号： G01T1/00 ; G01T1/36 ; G01T1/16
摘要：
本公开提出一种介质信息确定和核废物探测方法、装置、系统及存储介质，涉及检测技术领域。本公开的介质信息确定方法包括：获取透射源探测桶装核废物时，穿过桶装核废物的属于每种预定能量的第一光子数；根据属于预定能量的第一光子数，和透射源在无介质时属于对应预定能量的第二光子数，确定实测探测效率；根据预定能量对应的实测探测效率，基于探测效率库确定桶装核废物的材料和密度，其中，探测效率库中包括介质材料、介质密度、能量与预存探测效率的对应关系。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01T | 核辐射或X射线辐射的测量 |
| ------G01T1/00 | X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量 |