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基本信息:
- 专利标题: 一种基于跟踪微分器的三相电压源型转换器开路故障诊断方法及系统
- 申请号:CN202311569601.X 申请日:2023-11-23
- 公开(公告)号:CN117607648A 公开(公告)日:2024-02-27
- 发明人: 杨智明 , 刘萃宇 , 向刚 , 俞洋
- 申请人: 哈尔滨工业大学 , 北京航天自动控制研究所
- 申请人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 专利权人: 哈尔滨工业大学,北京航天自动控制研究所
- 当前专利权人: 哈尔滨工业大学,北京航天自动控制研究所
- 当前专利权人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 代理机构: 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司
- 代理人: 刘景祥
- 主分类号: G01R31/26
- IPC分类号: G01R31/26 ; G01R31/54
摘要:
本发明提出了一种基于跟踪微分器的三相电压源型转换器开路故障诊断方法及系统,首先采集三相VSC的电流,用三个微分跟踪器分别得到了连续平滑的三相差分电流;第一个IGBT开路故障的诊断需要识别过零区间;当某一相差分电流持续一段时间接近于0时,被认为这一相的差分电流出现过零区间;过零区间发生后,判断同时这一相差分电流在一个周期内的最大最小值相对于上个周期的最大最小值是否发生了改变;根据之前的分析结果,分析第二个IGBT开路故障情况,完成三相电压源型转换器开路故障。
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01R | 测量电变量;测量磁变量(通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
------G01R31/00 | 电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
--------G01R31/26 | .单个半导体器件的测试 |