基本信息:
- 专利标题： 辐射检查装置
- 申请号：CN202311810500.7 申请日：2023-12-26
- 公开(公告)号：CN117607175A 公开(公告)日：2024-02-27
- 发明人： 刘磊 , 刘必成 , 李元景 , 宗春光 , 迟豪杰 , 喻卫丰 , 史俊平 , 谭惠文
- 申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
- 申请人地址： 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 专利权人： 同方威视技术股份有限公司,清华大学
- 当前专利权人： 同方威视技术股份有限公司,清华大学
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 代理机构： 中国贸促会专利商标事务所有限公司
- 代理人： 张鹏
- 主分类号： G01N23/04
- IPC分类号： G01N23/04
摘要：
本发明公开一种辐射检查装置，包括：辐射源，用于发出射线对被检物进行辐射扫描检查；探测装置，包括在辐射检查工作时由承载物承载的第一探测器臂架和设于所述第一探测器臂架上的探测器，所述探测器用于接收所述辐射源发出的对被检物进行扫描后的射线，所述第一探测器臂架在辐射检查工作时柔性地承载于所述承载物的承载表面上。本发明的辐射检查装置能够更好地适应不平整承载表面。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N23/00 | 利用未包括在G01N21/00或G01N22/00组内的波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、中子 |
| --------G01N23/02 | .通过使辐射透过材料 |
| ----------G01N23/04 | ..并形成图像 |