基本信息:
- 专利标题： 一种基于自适应区域生长的超声相控阵缺陷提取方法
- 申请号：CN202311535963.7 申请日：2023-11-17
- 公开(公告)号：CN117571833A 公开(公告)日：2024-02-20
- 发明人： 王哲 , 张超 , 杨庆 , 皮兴旺 , 王嵘 , 王泽湘 , 李霞辉 , 黎帅
- 申请人： 湖南汽车工程职业学院
- 申请人地址： 湖南省株洲市云龙示范区智慧路79号
- 专利权人： 湖南汽车工程职业学院
- 当前专利权人： 湖南汽车工程职业学院
- 当前专利权人地址： 湖南省株洲市云龙示范区智慧路79号
- 代理机构： 西安圣邦赢知识产权代理事务所
- 代理人： 陈秀清
- 主分类号： G01N29/06
- IPC分类号： G01N29/06 ; G01N29/44 ; G06T7/00 ; G06T7/11 ; G06T7/13 ; G06T7/136 ; G06T7/155 ; G06T7/187 ; G06T5/70 ; G06T5/20
摘要：
本发明涉及超声相控阵检测技术领域，且公开了一种基于自适应区域生长的超声相控阵缺陷提取方法，步骤一：对图像进行预处理，采用超声相控阵检测系统获取的缺陷图像为彩色图像。该基于自适应区域生长的超声相控阵缺陷提取方法，先将混有噪声干扰的超声相控阵B扫描图像进行灰度处理，接着采用双边滤波算法，即达到了滤波效果，也保留了检测图像细节；接着实时调整扫描线位置，提取缺陷扫描线A波数据并寻找最大幅值点，实现了自动设置区域生长种子点，然后使用3×3移动窗口遍历全部区域，并不断更新种子点及窗口阈值，实现了缺陷图像的精准分割。最后基于数学形态学方法，采用闭运算并结合sobel算子实现缺陷边缘以及其他特征的提取。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N29/00 | 利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像 |
| --------G01N29/02 | .流体分析 |
| ----------G01N29/06 | ..内部的显像，例如，声显微技术 |