基本信息:
- 专利标题： 一种岩体结构面粗糙度系数计算方法
- 申请号：CN202311233280.6 申请日：2023-09-22
- 公开(公告)号：CN117490612A 公开(公告)日：2024-02-02
- 发明人： 李嘉雨 , 谢毅 , 王哲威 , 欧阳吉 , 邓睿 , 刘毅 , 王栋 , 宋章 , 张可 , 郭晨 , 刘美琳 , 刘小莎 , 程武洲
- 申请人： 中铁二院工程集团有限责任公司
- 申请人地址： 四川省成都市金牛区通锦路三号
- 专利权人： 中铁二院工程集团有限责任公司
- 当前专利权人： 中铁二院工程集团有限责任公司
- 当前专利权人地址： 四川省成都市金牛区通锦路三号
- 代理机构： 四川力久律师事务所
- 代理人： 胡海燕
- 主分类号： G01B11/30
- IPC分类号： G01B11/30 ; G01B11/00 ; G01B11/14 ; G01B11/26
摘要：
本发明涉及地质勘察技术领域，提供了一种岩体结构面粗糙度系数计算方法，包含以下步骤：获取待测对象结构面的三维坐标数据；每P个Ti拟合一个平面方程Stj，拟合m个Stj；计算待测对象结构面上所有Ti至各Stj的距离之和Lj，以值最小的Lj对应的Stj作为最优拟合平面方程Stk；计算Ti至Stk的垂直距离，获得各Ti的起伏高度dki；计算各Stj的法向向量与Stk的法向向量之间的夹角，获得各Stj的起伏角度αkj；根据dki和αkj确定待测对象的JRC等级；计算各Stj方位角与Stk方位角之间的夹角θj，根据θj确定待测对象的JRC值。本发明能解决现有的岩体结构面粗糙度计算方法基于二维形貌数据进行，其计算结果忽略了未被剖面线所切割的部分，导致计算结果存在较大偏差的问题。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 |
| ------G01B11/00 | 以采用光学方法为特征的计量设备 |
| --------G01B11/30 | .用于计量表面的粗糙度和不规则性 |