基本信息:
- 专利标题： 一种三维动态位移测量系统、测量方法及测量设备
- 申请号：CN202311417404.6 申请日：2023-10-30
- 公开(公告)号：CN117450932A 公开(公告)日：2024-01-26
- 发明人： 郭冬梅 , 张梦 , 权丽 , 孙睿谦 , 夏巍
- 申请人： 南京师范大学
- 申请人地址： 江苏省南京市鼓楼区宁海路122号
- 专利权人： 南京师范大学
- 当前专利权人： 南京师范大学
- 当前专利权人地址： 江苏省南京市鼓楼区宁海路122号
- 代理机构： 南京苏高专利商标事务所
- 代理人： 徐红梅
- 主分类号： G01B11/02
- IPC分类号： G01B11/02 ; G01B9/02002 ; G01B9/02015 ; G01B9/02
摘要：
本发明公开了一种三维动态位移测量系统、测量方法及测量设备，系统包括半导体激光器、两个分光棱镜、两个平面反射镜、反射式二维正交光栅、数据采集卡和计算机，半导体激光器发出的光经两个分光棱镜和两个平面反射镜后分为三束，三束光以不同的利特罗角入射至反射式二维正交光栅上；三束入射光对应的自准直衍射光分别沿原光路反馈回半导体激光器内，与激光器内的光发生干涉后转化为电信号，经数据采集卡输入计算机处理，得到待测目标的动态三维位移。本发明无需添加额外的光学调制器件，半导体激光器同时作为光源和探测器，实现了高精度的三维动态位移的实时测量；且光路结构简单、易准直，成本低廉，抗干扰能力强。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 |
| ------G01B11/00 | 以采用光学方法为特征的计量设备 |
| --------G01B11/02 | .用于计量长度、宽度或厚度 |