基本信息:
- 专利标题： 半导体封装
- 申请号：CN202310808184.3 申请日：2023-07-03
- 公开(公告)号：CN117352492A 公开(公告)日：2024-01-05
- 发明人： 金柱贤 , 金一焕 , 徐善京 , 赵汊济
- 申请人： 三星电子株式会社
- 申请人地址： 韩国京畿道
- 专利权人： 三星电子株式会社
- 当前专利权人： 三星电子株式会社
- 当前专利权人地址： 韩国京畿道
- 代理机构： 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理人： 吴晓兵; 倪斌
- 优先权： 10-2022-0081724 2022.07.04 KR
- 主分类号： H01L23/538
- IPC分类号： H01L23/538 ; H01L23/498
摘要：
一种半导体封装包括：第一半导体芯片，包括第一焊盘；第二半导体芯片，在第一半导体芯片下方，第二半导体芯片包括具有前表面和相对的后表面的衬底、在前表面上并与第一焊盘接触的第二焊盘、以及电连接到第二焊盘并包括从衬底的后表面突出的突出部的贯通电极；通孔结构，设置在第二半导体芯片周围并与第一焊盘接触；第一介电层，沿衬底的后表面和贯通电极的突出部的侧表面延伸；第二介电层，在第一介电层下方并在贯通电极的突出部之间以及通孔结构之间的空间中；以及凸块结构，在第二介电层下方并电连接到贯通电极和通孔结构。
IPC结构图谱:
| H | 电学 |
| --H01 | 基本电气元件 |
| ----H01L | 半导体器件；其他类目未包含的电固体器件 |
| ------H01L23/00 | 半导体或其他固态器件的零部件 |
| --------H01L23/34 | .冷却装置；加热装置；通风装置或温度补偿装置 |
| ----------H01L23/538 | ..制作在绝缘衬底上或内的多个半导体芯片间的互连结构 |