基本信息:
- 专利标题： 一种磁性颗粒等效磁矩测量方法及标准样品
- 申请号：CN202311414220.4 申请日：2023-10-30
- 公开(公告)号：CN117148239B 公开(公告)日：2024-02-20
- 发明人： 王倩 , 罗鹏顺 , 罗锐 , 路豫
- 申请人： 华中科技大学
- 申请人地址： 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 专利权人： 华中科技大学
- 当前专利权人： 华中科技大学
- 当前专利权人地址： 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 代理机构： 武汉华之喻知识产权代理有限公司
- 代理人： 邓彦彦
- 主分类号： G01R33/12
- IPC分类号： G01R33/12 ; G01R35/00
摘要：
本发明公开了一种磁性颗粒等效磁矩测量方法及标准样品，涉及精密弱力测量领域；方法包括：测量磁性颗粒与标准样品之间的磁相互作用引起的磁性颗粒所在探针共振频率的改变量；所述标准样品包括磁性薄膜块阵列；所述探针包括悬臂梁和磁性颗粒，悬臂梁作为弱力传感器，当悬臂梁受到磁性颗粒与标准样品之间磁力的作用时，探针的共振频率发生改变；基于探针共振频率改变量与磁性颗粒等效磁矩之间的函数关系拟合得到磁性颗粒的等效磁矩。本发明解决了目前磁测量仪器无法标定微米量级及微米量级以下磁性颗粒磁矩的问题，为其磁矩的测量提供了新方法。
公开/授权文献:
- CN117148239A 一种磁性颗粒等效磁矩测量方法及标准样品 公开/授权日：2023-12-01
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R33/00 | 测量磁变量的装置或仪器 |
| --------G01R33/12 | .测量物品的磁性或者固体或流体样品的磁性 |