基本信息:
- 专利标题： 磁场探头校准系数确定方法、装置和电子设备
- 申请号：CN202310773437.8 申请日：2023-06-28
- 公开(公告)号：CN117008033A 公开(公告)日：2023-11-07
- 发明人： 陈燕宁 , 赵扬 , 刘芳 , 阎照文 , 高杰 , 成睿琦 , 赵富裕
- 申请人： 北京芯可鉴科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京航空航天大学
- 申请人地址： 北京市昌平区双营西路79号院中科云谷园11号楼一层; ;
- 专利权人： 北京芯可鉴科技有限公司,北京智芯微电子科技有限公司,北京航空航天大学
- 当前专利权人： 北京芯可鉴科技有限公司,北京智芯微电子科技有限公司,北京航空航天大学
- 当前专利权人地址： 北京市昌平区双营西路79号院中科云谷园11号楼一层; ;
- 代理机构： 北京润平知识产权代理有限公司
- 代理人： 封瑛
- 主分类号： G01R35/00
- IPC分类号： G01R35/00
摘要：
本发明提供一种磁场探头校准系数确定方法、一种磁场探头校准系数确定装置和一种电子设备，属于磁场检测技术领域。磁场探头校准系数确定方法，包括：确定磁场探头对通电的微带线测量的电压值；确定磁场探头限定的磁场强度检测区域中每个子区域的磁场强度值；基于所有子区域的磁场强度值确定磁场探头对微带线测量的磁场强度平均值；基于电压值和磁场强度平均值，确定磁场探头校准系数。相比现有方法在使用微带线对磁场探头进行校准时，计算磁场强度时只计算了探头环中心位置处的场值。本发明通过计算磁场探头限定的磁场强度检测区域中每个子区域的磁场强度值得到的磁场强度平均值更加准确，进而减小计算得到的磁场探头校准系数的误差。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R35/00 | 包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准 |