基本信息:
- 专利标题： 星载抛物面天线微波辐射计的绝对定标区域选择方法
- 申请号：CN202310755609.9 申请日：2023-06-25
- 公开(公告)号：CN116989902A 公开(公告)日：2023-11-03
- 发明人： 任晶晶 , 张欢 , 张利强 , 贺玮 , 王睿 , 王涛 , 蔡亚宁 , 韩东阳
- 申请人： 中国空间技术研究院
- 申请人地址： 北京市海淀区友谊路104号
- 专利权人： 中国空间技术研究院
- 当前专利权人： 中国空间技术研究院
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区友谊路104号
- 代理机构： 北京艾纬铂知识产权代理有限公司
- 代理人： 刘芳
- 主分类号： G01J5/90
- IPC分类号： G01J5/90
摘要：
本发明公开了一种星载抛物面天线微波辐射计的绝对定标区域选择方法，所述方法包括：确定卫星天线在各极端工况情况分别对应的反射面温度场；若各型面变形数据对绝对定标的精度的影响均满足绝对定标使用要求，将太阳入射角曲线中的所有点对应的数值组成集合，否则，以不满足绝对定标使用要求的各极端工况在太阳入射角曲线中对应的点的数值为中心进行迭代计算，寻找该点对应的取值区间，再筛选出能够满足绝对定标使用要求的太阳入射角曲线中的所有点对应的数值或取值区间，组成集合；基于集合中的元素确定绝对定标实际选取的太阳入射角曲线的点对应的取值或取值区间，从而确定绝对定标区域。本方法降低天线反射面热形变导致的定标精度偏差。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01J | 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法 |
| ------G01J5/00 | 辐射高温测定法 |
| --------G01J5/90 | .辐射高温计的测试、检验或校正操作 |