基本信息:
- 专利标题： 电磁环境电力芯片检测装置及系统
- 申请号：CN202310628180.7 申请日：2023-05-30
- 公开(公告)号：CN116840590A 公开(公告)日：2023-10-03
- 发明人： 陈燕宁 , 赵扬 , 刘芳 , 阎照文 , 高杰 , 成睿琦 , 赵富裕
- 申请人： 北京芯可鉴科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京航空航天大学
- 申请人地址： 北京市昌平区双营西路79号院中科云谷园11号楼一层; ;
- 专利权人： 北京芯可鉴科技有限公司,北京智芯微电子科技有限公司,北京航空航天大学
- 当前专利权人： 北京芯可鉴科技有限公司,北京智芯微电子科技有限公司,北京航空航天大学
- 当前专利权人地址： 北京市昌平区双营西路79号院中科云谷园11号楼一层; ;
- 代理机构： 北京润平知识产权代理有限公司
- 代理人： 封瑛
- 主分类号： G01R31/00
- IPC分类号： G01R31/00 ; G01R29/08
摘要：
本发明提供一种电磁环境电力芯片检测装置及系统，属于电磁特征采集领域，包括：室外电磁环境检测单元，设置在室外电磁环境中，用于检测电力设备的电磁环境，生成室外电磁信号；室内电磁环境复现单元，用于根据接收到的室外电磁信号在微波暗室内对室外电磁信号进行模拟；芯片电磁特征检测单元，包括电磁特征检测模块和高速采集卡，电磁特征检测模块用于检测设置在微波暗室内的样品芯片的电磁特征，生成电磁特征信号，高速采集卡与电磁特征检测模块连接，用于对接收到的电磁特征信号进行显示。通过本发明提供的装置，能够在实验室模拟真实环境的电磁场景，对芯片的电磁兼容性进行测试和评估，以确保设备能够在真实的电磁环境下正常工作。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |