基本信息:
- 专利标题： 一种光谱分析装置、方法以及校准方法
- 申请号：CN202310426282.0 申请日：2023-04-20
- 公开(公告)号：CN116608950B 公开(公告)日：2024-07-26
- 发明人： 张璟
- 申请人： 长沙思木锐信息技术有限公司
- 申请人地址： 湖南省长沙市雨花区劳动东路139号新城新世界第三期西组团1单元20层2018房
- 专利权人： 长沙思木锐信息技术有限公司
- 当前专利权人： 长沙思木锐信息技术有限公司
- 当前专利权人地址： 湖南省长沙市雨花区劳动东路139号新城新世界第三期西组团1单元20层2018房
- 代理机构： 杭州裕阳联合专利代理有限公司
- 代理人： 田金霞
- 主分类号： G01J3/28
- IPC分类号： G01J3/28 ; G01J3/02 ; G01J3/45
摘要：
本发明公开一种光谱分析装置、方法以及校准方法，装置包括第一级滤波器和第二级滤波器，第一级滤波器的一输出端连接第二级滤波器的输入端，第二级滤波器的输出端连接探测器阵列；其中，第一级滤波器包括微环谐振器和MZI结构；MZI结构包括相移器，通过控制MZI结构的相位改变微环谐振器的耦合系数；微环谐振器包括相移器，通过控制相移器调整微环谐振器输出的谐振波长；第二级滤波器包括输出通道固定的多输出滤波器，第一级滤波器的FSR大于等于第二级滤波器的FSR。本方案基于可调+固定两级交织滤波器架构，减少光电探测器数量，通过MZI调控实现分辨率可调功能，第一级滤波器的滤波带宽可调，可以动态调控频谱分析的分辨率，实现灵活滤波。
公开/授权文献:
- CN116608950A 一种光谱分析装置、方法以及校准方法 公开/授权日：2023-08-18
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01J | 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法 |
| ------G01J3/00 | 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色 |
| --------G01J3/28 | .光谱测试 |