基本信息:
- 专利标题： 平整度检测装置及其检测方法
- 申请号：CN202310366057.2 申请日：2023-04-07
- 公开(公告)号：CN116608798A 公开(公告)日：2023-08-18
- 发明人： 肖根昌 , 张文德 , 刘欢 , 雷勇平 , 高建
- 申请人： 达运精密工业(厦门)有限公司
- 申请人地址： 福建省厦门市火炬高新区(翔安)产业区翔安北路3089号
- 专利权人： 达运精密工业(厦门)有限公司
- 当前专利权人： 达运精密工业(厦门)有限公司
- 当前专利权人地址： 福建省厦门市火炬高新区(翔安)产业区翔安北路3089号
- 主分类号： G01B11/30
- IPC分类号： G01B11/30
摘要：
本发明提供一种平整度检测装置及其检测方法，该平整度检测装置包含载台、感测模块以及显示模块，该载台具有相对的第一表面、第二表面及贯穿该第一表面与该第二表面的多个通孔；该感测模块邻近该载台的该第二表面设置，该感测模块具有多个距离感测器；该显示模块位于该载台的该第一表面，该显示模块具有多个第一指示灯，该多个第一指示灯与该多个距离感测器电性连接；使用时，该感测模块感测该多个距离感测器到该背光模组的多个距离，并根据该多个距离确认该背光模组的平整值，若该平整值大于预设值，则该感测模块传送第一电信号至该显示模块，该显示模块中的该多个第一指示灯中的对应指示灯亮起。本发明可实现背光模组的平整度自动化检测。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 |
| ------G01B11/00 | 以采用光学方法为特征的计量设备 |
| --------G01B11/30 | .用于计量表面的粗糙度和不规则性 |