基本信息:
- 专利标题： 陶瓷基片检验设备
- 申请号：CN202310477584.0 申请日：2023-04-28
- 公开(公告)号：CN116593471A 公开(公告)日：2023-08-15
- 发明人： 裴越 , 赵文义 , 彭博 , 李阳 , 张崤君 , 刘林杰 , 李彩然
- 申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 申请人地址： 河北省石家庄市合作路113号
- 专利权人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 当前专利权人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 当前专利权人地址： 河北省石家庄市合作路113号
- 代理机构： 石家庄国为知识产权事务所
- 代理人： 刘少卿
- 主分类号： G01N21/88
- IPC分类号： G01N21/88 ; G01N21/01
摘要：
本申请适用于陶瓷封装外壳技术领域，提供陶瓷基片检验设备，该设备包括：料仓、直振运料器、圆形振动盘、光纤吹气模组、直振导正装置、转盘、检验模组和收料盒；料仓用于存放陶瓷基片；收料盒用于存放检验完的陶瓷基片；直振运料器用于将料仓中的陶瓷基片运送到圆形振动盘上；圆形振动盘使全部的陶瓷基片横向排列；光纤吹气模组用于对陶瓷基片进行检测，将检测到反向的陶瓷基片调整为正向；直振导正装置用于对陶瓷基片进行排列和姿态调整，并将陶瓷基片送入转盘中；转盘用于将陶瓷基片送至检验模组；检验模组对陶瓷基片的缺陷进行检验，得到检验结果，并将检验完成后的陶瓷基片送入收料盒。本申请可以提高陶瓷基片的检验效率。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/88 | ..测试瑕疵、缺陷或污点的存在 |