![液晶面板挠曲电效应评价方法、装置、设备和存储介质](/CN/2023/1/68/images/202310341608.jpg)
基本信息:
- 专利标题: 液晶面板挠曲电效应评价方法、装置、设备和存储介质
- 申请号:CN202310341608.X 申请日:2023-03-31
- 公开(公告)号:CN116504160B 公开(公告)日:2024-09-20
- 发明人: 杨雪彪 , 张嫣然 , 刘文平 , 陈卯先
- 申请人: 北京八亿时空液晶科技股份有限公司
- 申请人地址: 北京市房山区燕山东流水路20号院4号楼1至5层101
- 专利权人: 北京八亿时空液晶科技股份有限公司
- 当前专利权人: 北京八亿时空液晶科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市房山区燕山东流水路20号院4号楼1至5层101
- 代理机构: 北京路浩知识产权代理有限公司
- 代理人: 彭伶俐
- 主分类号: G09G3/00
- IPC分类号: G09G3/00 ; G02F1/13 ; G02F1/137
摘要:
本发明提供一种液晶面板挠曲电效应评价方法、装置、设备和存储介质,通过为液晶面板提供工作电压,使其能正常显示不同灰阶画面,打开液晶面板的TFT的开关,为Data信号线提供测量透过率所需的驱动信号,获取液晶面板的屏幕亮度数据,根据屏幕亮度数据绘制电压对透过率曲线,从电压‑透过率曲线中选取需要测量的透过率序列,测量透过率序列中各个透过率下对应的闪烁波形数据,最后对闪烁波形数据进行分析,评估其挠曲电效应强弱,通过利用闪烁测量的方法来评估挠曲电效应对液晶面板显示效果的影响,相比于传统的测量挠曲电系数的方法,测量难度更低,且测量的结果更加直观,能够更加准确的评估挠曲电效应对液晶面板显示效果的影响。
公开/授权文献:
- CN116504160A 液晶面板挠曲电效应评价方法、装置、设备和存储介质 公开/授权日:2023-07-28
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G09 | 教育;密码术;显示;广告;印鉴 |
----G09G | 使用静态方法显示可变信息的指示装置 |
------G09G3/00 | 仅考虑与除阴极射线管以外的目视指示器连接的控制装置和电路 |