基本信息:
- 专利标题： 一种地外天体非结构化表面附着钻取采样装置及取样方法
- 申请号：CN202310195607.9 申请日：2023-03-03
- 公开(公告)号：CN116465672A 公开(公告)日：2023-07-21
- 发明人： 张伟 , 程钦锟 , 周维佳 , 李俊麟 , 李振新 , 于涛 , 王博 , 王守瑞
- 申请人： 中国科学院沈阳自动化研究所
- 申请人地址： 辽宁省沈阳市沈河区南塔街114号
- 专利权人： 中国科学院沈阳自动化研究所
- 当前专利权人： 中国科学院沈阳自动化研究所
- 当前专利权人地址： 辽宁省沈阳市沈河区南塔街114号
- 代理机构： 沈阳科苑专利商标代理有限公司
- 代理人： 何丽英
- 主分类号： G01N1/08
- IPC分类号： G01N1/08 ; G01D21/02
摘要：
本发明涉及深空探测采样装置，特别涉及一种地外天体非结构化表面附着钻取采样装置及取样方法。包括操控机构、钻取动力机构、冲击钻取机构及附着机构，其中钻取动力机构用于为冲击钻取机构提供动力；冲击钻取机构与钻取动力机构的输出端连接，用于对地外天体表面进行钻取采样；附着机构设置于钻取动力机构的下端，用于附着于地外天体表面；操控机构设置于钻取动力机构的上端，用于对附着机构和冲击钻取机构进行控制。本发明通过模块化、轻量化设计使装置结构紧凑、便于操控，可在宇航员辅助操作装配或无人自动操作下实现对地外天体非结构化表面附着并进行取芯采样。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N1/00 | 取样；制备测试用的样品 |
| --------G01N1/02 | .取样装置 |
| ----------G01N1/04 | ..固体的，如采用切割 |
| ------------G01N1/08 | ...用提取工具，如岩心钻头 |