基本信息:
- 专利标题： 一种基于交叉偏振波的三维光场自参考测量装置及方法
- 申请号：CN202310720575.X 申请日：2023-06-19
- 公开(公告)号：CN116448243B 公开(公告)日：2023-09-22
- 发明人： 李伟 , 王逍 , 曾小明 , 龙天洋 , 左言磊 , 吴朝辉 , 母杰 , 王晓东 , 李钊历
- 申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 申请人地址： 四川省绵阳市绵山路64号
- 专利权人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 当前专利权人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 当前专利权人地址： 四川省绵阳市绵山路64号
- 代理机构： 中国工程物理研究院专利中心
- 代理人： 仲万珍
- 主分类号： G01J1/42
- IPC分类号： G01J1/42 ; G01J1/04 ; G01J9/02
摘要：
本发明公开了一种基于交叉偏振波的三维光场自参考测量装置及方法，该装置及方法从待测激光脉冲中分出一部分能量产生XPW脉冲，以XPW脉冲作为参考光进行测量，并根据测量结果以及XPW脉冲与待测脉冲之间的非线性转换关系，利用迭代算法重构待测光的三维光场。该方法克服了现有技术中进行超快激光三维光场的单帧干涉测量需要外部参考光的缺陷，有助于相关测量技术的仪器化和实用化。
公开/授权文献:
- CN116448243A 一种基于交叉偏振波的三维光场自参考测量装置及方法 公开/授权日：2023-07-18
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01J | 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法 |
| ------G01J1/00 | 光度测定法，例如照相的曝光表 |
| --------G01J1/42 | .采用电辐射检测器 |