基本信息:
- 专利标题： 一种基于多向检测的磁光成像表面缺陷轮廓重建方法
- 申请号：CN202310330498.7 申请日：2023-03-30
- 公开(公告)号：CN116402909A 公开(公告)日：2023-07-07
- 发明人： 李胜平 , 张杰 , 宋松 , 白利兵
- 申请人： 电子科技大学
- 申请人地址： 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
- 专利权人： 电子科技大学
- 当前专利权人： 电子科技大学
- 当前专利权人地址： 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
- 代理机构： 成都行之智信知识产权代理有限公司
- 代理人： 温利平
- 主分类号： G06T11/00
- IPC分类号： G06T11/00 ; G06T7/11 ; G06T7/136 ; G01N27/83
摘要：
本发明公开了一种基于多向检测的磁光成像表面缺陷轮廓重建方法，通过磁光成像检测设备在线检测并采集铁磁材料表面缺陷信息，并根据提取的缺陷信号建立磁场强度分布矩阵；然后通过计算物理模型正演的信号对被测件表面磁阻分布的偏导，建立灵敏度矩阵；接着引入迭代反演方法，通过对磁场分布信号进行反演，得到磁阻分布数据，实现了缺陷轮廓的高精度重构，操作简单，与传统的缺陷轮廓重构方法相比，在精度上具有明显的优势。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G06 | 计算；推算；计数 |
| ----G06T | 一般的图像数据处理或产生 |
| ------G06T11/00 | 两维（2D）图像的发生，例如从一个绘图到一个位像图 |