
基本信息:
- 专利标题: 一种中红外离散时间拉伸光谱方法
- 申请号:CN202310421147.7 申请日:2023-04-19
- 公开(公告)号:CN116359160A 公开(公告)日:2023-06-30
- 发明人: 黄坤 , 曾和平 , 于婷婷
- 申请人: 华东师范大学 , 华东师范大学重庆研究院
- 申请人地址: 上海市闵行区东川路500号;
- 专利权人: 华东师范大学,华东师范大学重庆研究院
- 当前专利权人: 华东师范大学,华东师范大学重庆研究院
- 当前专利权人地址: 上海市闵行区东川路500号;
- 代理机构: 上海蓝迪专利商标事务所
- 代理人: 徐筱梅; 张翔
- 主分类号: G01N21/35
- IPC分类号: G01N21/35 ; G01N21/01
摘要:
本发明公开了一种中红外离散时间拉伸光谱方法,其特点是该方法包括:1)制备重复频率略有差别的双色脉冲光源;2)对脉冲光源1输出脉冲进行波长展宽与时间拉伸为非线性差频的信号光,对脉冲光源2输出脉冲进行功率放大,为非线性差频的泵浦光;3)泵浦光脉冲对信号光的时域展宽光谱光学取样,获得中红外离散时间拉伸的脉冲序列;4)中红外离散啁啾脉冲经待测样品,通过低带宽中红外探测器测量吸收光谱信息。本发明与现有技术相比具有宽波段、高速度、高分辨优点,借助低带宽的单点探测器完成中红外光谱的测量,无需色散分光元件和机械扫描装置,解决了中红外波段缺乏时间、高色散时域拉伸介质的难题,拓展了时间拉伸技术在中红外波段应用。
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
------G01N21/00 | 利用光学手段,即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
--------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
----------G01N21/21 | ..影响偏振的性质 |
------------G01N21/31 | ...测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应,例如原子吸收光谱术 |
--------------G01N21/35 | ....利用红外光 |