基本信息:
- 专利标题： 基于控制器域网CAN总线的芯片测试方法和装置
- 申请号：CN202310267673.2 申请日：2023-03-16
- 公开(公告)号：CN116338428A 公开(公告)日：2023-06-27
- 发明人： 孙云龙 , 张学磊 , 孙昕 , 原义栋 , 李思琦
- 申请人： 北京智芯微电子科技有限公司
- 申请人地址： 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼
- 专利权人： 北京智芯微电子科技有限公司
- 当前专利权人： 北京智芯微电子科技有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼
- 代理机构： 北京智信四方知识产权代理有限公司
- 代理人： 刘真
- 主分类号： G01R31/28
- IPC分类号： G01R31/28 ; H04L12/40 ; H04L69/08
摘要：
本公开涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种基于控制器域网CAN总线的芯片测试方法、装置，应用于与至少两个芯片测试板连接的CAN测试盒，所述方法包括：接收第一开始测试指令，第一测试指令包括身份识别标识，且第一开始测试指令用于指示身份识别标识指示的目标芯片测试板开始测试目标任务；响应于第一开始测试指令，将第一开始测试指令转换为遵循CAN总线协议的第二开始测试指令，目标芯片测试板为至少两个芯片测试板中的芯片测试板；通过CAN总线发送第二开始测试指令。该方法可以通过CAN总线将遵循CAN总线协议的开始测试指令传输至至少两个芯片测试板以进行测试，从而可以实现批量芯片测试且测试线路简洁，也降低了测试成本。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/28 | .电路的测试，例如用信号故障寻测器 |