基本信息:
- 专利标题： 表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质
- 申请号：CN202310202871.0 申请日：2023-03-01
- 公开(公告)号：CN116091486A 公开(公告)日：2023-05-09
- 发明人： 王骏荣 , 刘浩 , 张学钢 , 钟权
- 申请人： 合肥联宝信息技术有限公司
- 申请人地址： 安徽省合肥市经济技术开发区习友路5899号联想科技港1605室
- 专利权人： 合肥联宝信息技术有限公司
- 当前专利权人： 联宝(合肥)电子科技有限公司
- 当前专利权人地址： 230601 安徽省合肥市经济技术开发区云谷路3188-1号(综合保税区内)
- 代理机构： 北京乐知新创知识产权代理事务所
- 代理人： 江宇
- 主分类号： G06T7/00
- IPC分类号： G06T7/00 ; G06N3/0464 ; G06N3/084
摘要：
本申请提供了表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质；所述方法包括：对输入图像进行至少两次下采样操作，得到所述输入图像对应的N组特征图，N为所述下采样操作的次数；将第N次下采样操作得到的特征图输入神经网络的自注意力模块，得到所述输入图像对应的第N组特征图；利用特征金字塔网络对所述输入图像对应的N组特征图进行特征融合，得到融合尺度特征；所述神经网络包括所述特征金字塔网络；基于所述融合尺度特征，预测所述输入图像是否存在表面缺陷。如此，能够智能地检测输入图像对应的电子产品的表面缺陷，提高了表面缺陷的检测精度和检测效率。
公开/授权文献:
- CN116091486B 表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 公开/授权日：2024-02-06
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G06 | 计算；推算；计数 |
| ----G06T | 一般的图像数据处理或产生 |
| ------G06T7/00 | 图像分析，例如从位像到非位像 |