基本信息:
- 专利标题： 一种水下激光沉积层表面质量原位检测装置及方法
- 申请号：CN202310029033.8 申请日：2023-01-09
- 公开(公告)号：CN116045845A 公开(公告)日：2023-05-02
- 发明人： 孙桂芳 , 王世彬 , 王占栋 , 倪中华
- 申请人： 东南大学
- 申请人地址： 江苏省南京市江宁区东南大学路2号
- 专利权人： 东南大学
- 当前专利权人： 东南大学
- 当前专利权人地址： 江苏省南京市江宁区东南大学路2号
- 代理机构： 北京德崇智捷知识产权代理有限公司
- 代理人： 郝雅洁
- 主分类号： G01B11/24
- IPC分类号： G01B11/24 ; G01N3/42
摘要：
本发明涉及一种水下激光沉积层表面质量原位检测装置及方法，装置包括排水罩，其上端封闭、下端敞口，且上端设有排水气通道和保护气通道，排水气通道用于向排水罩内通入排水气将其内部的水排出构建干燥区域，保护气通道用于向排水罩内通入保护气为水下激光沉积提供保护气氛，排水罩内设有移动控制单元、激光沉积单元、形貌监测单元和硬度测量单元。通过形貌监测单元和硬度测量单元可以在水下原位逐层获取沉积层的表面形貌及硬度分布情况，并将采集的数据实时反馈，利用激光沉积单元及时进行激光重熔或激光淬火工艺来优化水下沉积层表面形貌及硬度分布，可避免未熔合、应力裂纹等缺陷，提高水下原位沉积件及原位修复件的内部质量。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 |
| ------G01B11/00 | 以采用光学方法为特征的计量设备 |
| --------G01B11/24 | .用于计量轮廓或曲率 |