基本信息:
- 专利标题： 对光栅尺信号质量进行评估的方法及装置、存储介质
- 申请号：CN202310341626.8 申请日：2023-04-03
- 公开(公告)号：CN116045814A 公开(公告)日：2023-05-02
- 发明人： 唐之瀚 , 元光远 , 张亮 , 金长明
- 申请人： 合肥安迅精密技术有限公司
- 申请人地址： 安徽省合肥市高新区黄山路602号大学科技园A400室
- 专利权人： 合肥安迅精密技术有限公司
- 当前专利权人： 合肥安迅精密技术有限公司
- 当前专利权人地址： 安徽省合肥市高新区黄山路602号大学科技园A400室
- 主分类号： G01B11/00
- IPC分类号： G01B11/00 ; G01J11/00 ; G01R29/027 ; G01P15/03 ; G01P3/36
摘要：
本发明涉及自动化控制领域领域，具体公开了一种对光栅尺信号质量进行评估的方法及装置、存储介质，所述方法包括以下步骤：以等时间间隔读取光栅尺给出的测量位置并由测量位置得到实时速度；当光栅尺信号的A或B信号发生变化时，记录下当前时间和A、B信号的值进行评估：若A、B信号同时发生变化则报错；若A或B信号变化表示的运动方向与所述实时速度方向不一致且所述实时速度绝对值大于系统的最小非零速度绝对值则报错；若A和B信号在指定时间内都没有变化且所述实时速度绝对值大于系统的最小非零速度绝对值则报错。该方案能够在实时掌握部件位置过程中实时监控光栅尺信号质量并在信号质量较差时通知机器的控制系统以便采取应对措施。
公开/授权文献:
- CN116045814B 对光栅尺信号质量进行评估的方法及装置、存储介质 公开/授权日：2023-06-09
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 |
| ------G01B11/00 | 以采用光学方法为特征的计量设备 |