基本信息:
- 专利标题： 一种高放废液中243Am含量的分析方法
- 申请号：CN202211400929.4 申请日：2022-11-09
- 公开(公告)号：CN115755146A 公开(公告)日：2023-03-07
- 发明人： 刘晓霞 , 牟凌 , 曾巧巧 , 李广雯 , 张艳君 , 杨立江 , 马小燕 , 杨松涛 , 马小军 , 陈珺 , 米文光 , 刁妍红
- 申请人： 中核四0四有限公司
- 申请人地址： 甘肃省兰州市508信箱甲37号
- 专利权人： 中核四0四有限公司
- 当前专利权人： 中核四0四有限公司
- 当前专利权人地址： 甘肃省兰州市508信箱甲37号
- 代理机构： 北京八月瓜知识产权代理有限公司
- 代理人： 张志良
- 主分类号： G01T1/167
- IPC分类号： G01T1/167 ; G01T1/178 ; G01N27/626 ; G01N1/34 ; G01N1/38
摘要：
本发明涉及后处理分析技术领域，尤其是涉及一种高放废液中243Am含量的分析方法，包括以下步骤：S1.取高放废液进行稀释，获得待测样品；S2.测量待测样品中241Am的放射性活性浓度；S3.加入氨基磺酸亚铁摇匀，随后加入TPRO‑二甲苯溶液进行萃取，收集有机相，将有机相在酸性条件下进行反萃取，收集水相浓缩，获得浓缩液；S4.取浓缩液测量，获得241Am与243Am的同位素比值；S5.计算出待测样品中243Am的含量。本发明的技术方案操作简便、安全可靠，能够对243Am的含量进行测定，且重复性好、准确度高，具有很好的实际应用价值。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01T | 核辐射或X射线辐射的测量 |
| ------G01T1/00 | X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量 |
| --------G01T1/16 | .辐射强度测量 |
| ----------G01T1/167 | ..测量物体放射性含量，例如，污染的测量 |