基本信息:
- 专利标题： 压力容器内表面缺陷水下非接触测量装置及方法
- 申请号：CN202211503726.8 申请日：2022-11-28
- 公开(公告)号：CN115728315A 公开(公告)日：2023-03-03
- 发明人： 钱俊毅 , 孙加伟 , 赵航 , 余哲 , 叶新 , 李守彬 , 聂继祖 , 高腾飞 , 罗立群 , 孔晨光 , 刘晖 , 张岩 , 吕鸣江 , 薛亚军 , 郭宗浩
- 申请人： 中广核检测技术有限公司 , 苏州热工研究院有限公司 , 中国广核集团有限公司 , 中国广核电力股份有限公司
- 申请人地址： 广东省深圳市福田区莲花街道福中社区深南中路中广核大厦北楼15层
- 专利权人： 中广核检测技术有限公司,苏州热工研究院有限公司,中国广核集团有限公司,中国广核电力股份有限公司
- 当前专利权人： 中广核检测技术有限公司,苏州热工研究院有限公司,中国广核集团有限公司,中国广核电力股份有限公司
- 当前专利权人地址： 广东省深圳市福田区莲花街道福中社区深南中路中广核大厦北楼15层
- 代理机构： 苏州创元专利商标事务所有限公司
- 代理人： 王涛
- 主分类号： G01N21/90
- IPC分类号： G01N21/90 ; G01N27/9013 ; G01N29/24
摘要：
本发明公开了一种压力容器内表面缺陷水下非接触测量装置及方法，装置包括：电源组件；机械臂；探头架组件；数据处理组件；激光三维测头包括能够防屏蔽的支架外壳、用于产生激光的激光器、用于采集反射的激光的三维接收相机和若干摄像头、用于控制激光器、接收相机以及若干摄像头的控制电路，激光器、三维接收相机、摄像头以及控制电路均安装于支架外壳内，激光器发射的激光与三维接收相机中心线所呈夹角的角度为45°‑80°。数据测量精度高，细节还原度好；防尘、防潮，对不同的水环境兼容性好；防辐射屏蔽设计，避免相机等设备受辐射损坏；自动化程度高，减少人员受照射剂量及水下作业工作量大；克服水下测量折射、散射问题。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/88 | ..测试瑕疵、缺陷或污点的存在 |
| ------------G01N21/90 | ...在容器内或它里面的物件内 |