基本信息:
- 专利标题： 基于深度学习与超快激光击穿光谱的原位快速大米检测系统及方法
- 申请号：CN202211311994.X 申请日：2022-10-25
- 公开(公告)号：CN115656145B 公开(公告)日：2024-08-23
- 发明人： 徐淮良 , 曹锦程 , 陈善铭 , 付尧
- 申请人： 吉林大学
- 申请人地址： 吉林省长春市长春高新技术产业开发区前进大街2699号
- 专利权人： 吉林大学
- 当前专利权人： 吉林大学
- 当前专利权人地址： 吉林省长春市长春高新技术产业开发区前进大街2699号
- 代理机构： 长春吉大专利代理有限责任公司
- 代理人： 刘世纯
- 主分类号： G01N21/71
- IPC分类号： G01N21/71 ; G01N21/39 ; G06N3/04 ; G06N3/08
摘要：
本发明公开了基于深度学习与超快激光击穿光谱的原位快速大米检测系统及方法，属于超快激光传感技术领域，包括飞秒激光放大器、三维精密位移平台、配有增强电荷耦合器件的光栅光谱仪及计算机；激光放大器所产生的飞秒激光脉冲依次透过二分之一半波片、偏振片、平凸透镜及介质膜高反镜之后在盛有大米的样品托盘的上方产生细长的光丝，光丝作用于样品托盘内的大米从而产生原位的激光信号，产生的激光信号再经由铝镜反射到双凸透镜，再经双凸透镜聚焦之后入射到配有增强电荷耦合器件的光栅光谱仪中，光栅光谱仪采集的光谱信号再输入到计算机中利用神经网络进行分析。本发明实现了原位的击穿光谱数据采集并结合深度学习算法进行分析，进而实现对不同类别大米样品的实时原位快速的检测与分类。
公开/授权文献:
- CN115656145A 基于深度学习与超快激光击穿光谱的原位快速大米检测系统及方法 公开/授权日：2023-01-31
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/71 | ..热激发的 |