基本信息:
- 专利标题： 一种多晶硅异常监测方法、装置及相关设备
- 申请号：CN202211425075.5 申请日：2022-11-14
- 公开(公告)号：CN115619772A 公开(公告)日：2023-01-17
- 发明人： 任永敬 , 侯雨 , 刘丹丹 , 银波 , 董越杰 , 王倩 , 辛俊伟
- 申请人： 新特能源股份有限公司 , 内蒙古新特硅材料有限公司
- 申请人地址： 新疆维吾尔自治区乌鲁木齐市甘泉堡经济技术开发区(工业园)众欣街2249号;
- 专利权人： 新特能源股份有限公司,内蒙古新特硅材料有限公司
- 当前专利权人： 新特能源股份有限公司,内蒙古新特硅材料有限公司
- 当前专利权人地址： 新疆维吾尔自治区乌鲁木齐市甘泉堡经济技术开发区(工业园)众欣街2249号;
- 代理机构： 北京银龙知识产权代理有限公司
- 代理人： 张敬强
- 主分类号： G06T7/00
- IPC分类号： G06T7/00 ; G06T7/70 ; G06V10/74
摘要：
本申请提供一种多晶硅异常监测方法、装置及相关设备，其中，所述方法包括：获取第一监控图像，其中，所述第一监控图像包括第一位置的图像，所述第一位置为反应炉内用于放置硅棒的位置；对所述第一监控图像进行图像分析，获得多个候选点；将所述多个候选点中对应的像素坐标位于预设区间内的像素点确定为异常点，其中，所述预设区间用于指示第一位置，所述异常点用于指示硅棒亮点；在所述第一监控图像上标记所述异常点。先通过图像分析的方式，从第一监控图像中获取像素值异常的多个候选点；再通过坐标匹配的方式，将位于预设区间的候选点确定为异常点，以替代人工巡检的监控方式，提升对硅棒亮点的监测效果。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G06 | 计算；推算；计数 |
| ----G06T | 一般的图像数据处理或产生 |
| ------G06T7/00 | 图像分析，例如从位像到非位像 |