基本信息:
- 专利标题： 一种基于随机抽样一致性的光谱漂移标定与校正方法
- 申请号：CN202211112891.0 申请日：2022-09-14
- 公开(公告)号：CN115586143B 公开(公告)日：2024-06-18
- 发明人： 刘向锋 , 徐卫明 , 舒嵘 , 贾良辰 , 许学森
- 申请人： 中国科学院上海技术物理研究所
- 申请人地址： 上海市虹口区玉田路500号
- 专利权人： 中国科学院上海技术物理研究所
- 当前专利权人： 中国科学院上海技术物理研究所
- 当前专利权人地址： 上海市虹口区玉田路500号
- 代理机构： 上海沪慧律师事务所
- 代理人： 郭英
- 主分类号： G01N21/27
- IPC分类号： G01N21/27
摘要：
本发明公开了一种基于随机抽样一致性的光谱漂移标定与校正方法，方法包括以下步骤：(1)光谱仪首次测量目标的光谱作为参考光谱，获得光谱的像元到波长的转换模型及系数；(2)光谱仪再次测量目标的光谱作为测量光谱，识别测量光谱中特征谱线的谱峰位置作为观测像元序列；(3)选取参考像元序列与观测像元序列间能满足条件的最大概率局内点，作为测量特征谱线与参考特征谱线的相匹配谱线；(4)计算匹配谱线间的像元差，将平均值作为光谱漂移量；(5)使用光谱漂移量来改正测量光谱的像元序列；(6)利用绝对平均值和均方根定量描述校正波长精度。本发明能快速自动识别测量光谱与参考光谱间的像元漂移量，准确性好，鲁棒性强，易操作。
公开/授权文献:
- CN115586143A 一种基于随机抽样一致性的光谱漂移标定与校正方法 公开/授权日：2023-01-10
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/21 | ..影响偏振的性质 |
| ------------G01N21/27 | ...利用光电检测 |