基本信息:
- 专利标题： 坐标测量装置
- 申请号：CN202211371781.6 申请日：2021-07-23
- 公开(公告)号：CN115540758B 公开(公告)日：2023-06-27
- 发明人： 张和君 , 陈源 , 廖学文 , 章智伟 , 冯福荣 , 张琥杰
- 申请人： 深圳市中图仪器股份有限公司
- 申请人地址： 广东省深圳市南山区西丽街道学苑大道1001号南山智园B1栋2楼
- 专利权人： 深圳市中图仪器股份有限公司
- 当前专利权人： 深圳市中图仪器股份有限公司
- 当前专利权人地址： 广东省深圳市南山区西丽街道学苑大道1001号南山智园B1栋2楼
- 代理机构： 深圳舍穆专利代理事务所
- 代理人： 邱爽
- 主分类号： G01B11/00
- IPC分类号： G01B11/00 ; G01C15/00
摘要：
本发明提供一种坐标测量装置，是通过跟踪靶标对靶标进行测量的坐标测量装置，坐标测量装置包括：基座以及设置于基座之上的光学机构，光学机构包括安装于基座的第一旋转装置、设置在第一旋转装置的第二旋转装置、以及安装于第二旋转装置的光学主体；光学主体具有外壳、布置在外壳内并发射激光束的激光源、用于捕获被靶标反射的激光束以跟踪激光束的光束跟踪器、以及测量与靶标的距离的光学距离测量器，外壳包括第一壳体、第二壳体以及设置在第一壳体和第二壳体之间的功能壳体，第一壳体和功能壳体、以及第二壳体和功能壳体通过连接柱柔性连接，外壳为密封结构；光学距离测量器包括容纳于功能壳体的干涉测距单元和容纳于第二壳体的绝对测距单元。
公开/授权文献:
- CN115540758A 坐标测量装置 公开/授权日：2022-12-30
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 |
| ------G01B11/00 | 以采用光学方法为特征的计量设备 |