基本信息:
- 专利标题： 一种基于自动快速编程的Flash存储器测试方法、系统及存储介质
- 申请号：CN202211203675.7 申请日：2022-09-29
- 公开(公告)号：CN115512760A 公开(公告)日：2022-12-23
- 发明人： 任军 , 吕明 , 吕向东 , 夏菁 , 陈君泉
- 申请人： 恒烁半导体(合肥)股份有限公司
- 申请人地址： 安徽省合肥市庐阳区天水路与太和路交口西北庐阳中科大校友创新园11号楼
- 专利权人： 恒烁半导体(合肥)股份有限公司
- 当前专利权人： 恒烁半导体(合肥)股份有限公司
- 当前专利权人地址： 安徽省合肥市庐阳区天水路与太和路交口西北庐阳中科大校友创新园11号楼
- 代理机构： 合肥陆纬知识产权代理事务所
- 代理人： 袁浩
- 主分类号： G11C29/56
- IPC分类号： G11C29/56 ; G11C29/16 ; G11C16/10 ; G11C16/24 ; G11C16/34
摘要：
本发明涉及存储器技术领域，公开了一种基于自动快速编程的Flash存储器测试方法、系统及存储介质，其中测试方法包括对存储器阵列单元执行擦除操作、生成并读取测试配置指令、预处理写数据模式、基于写数据模式初始化页数据缓冲器、顺次分页执行自动编程验证操作直至所有页全部执行完毕，其中自动编程验证操作包括页编程验证以及验证失败后重复进行的页编程和页编程后验证动作化；本发明具有多重测试功能，能够有效节约测试的时间，大大提高了Flash存储器的测试效率，有切实意义上的实用价值。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G11 | 信息存储 |
| ----G11C | 静态存储器 |
| ------G11C29/00 | 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器 |
| --------G11C29/56 | .用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备（ATE）；所用接口 |