基本信息:
- 专利标题： 一种物质非线性折射率测量方法及其测量装置
- 申请号：CN202210875800.2 申请日：2022-07-25
- 公开(公告)号：CN115356285B 公开(公告)日：2024-11-12
- 发明人： 姜小芳 , 高冠峰 , 刘钦 , 刘颖臻
- 申请人： 华南师范大学
- 申请人地址： 广东省广州市番禺区外环西路378号华南师范大学物理与电信工程学院
- 专利权人： 华南师范大学
- 当前专利权人： 华南师范大学
- 当前专利权人地址： 广东省广州市番禺区外环西路378号华南师范大学物理与电信工程学院
- 代理机构： 广州骏思知识产权代理有限公司
- 代理人： 吴静芝
- 主分类号： G01N21/41
- IPC分类号： G01N21/41
摘要：
一种物质非线性折射率测量方法，包括：进行频域分辨光学开关法，获取激光不经过样品时的初始脉冲频域曲线和初始相位曲线，以及获取激光经过样品后的测量脉冲频域曲线和测量相位曲线；对所述初始脉冲频域曲线进行脉冲演化的模拟仿真，获取仿真脉冲频域曲线；比较测量脉冲频域曲线和仿真脉冲频域曲线，并判定是否需要调整非线性薛定谔方程式中的物质非线性系数γ，使得测量脉冲频域曲线和仿真脉冲频域曲线相同，并通过非线性薛定谔方程式计算获取物质非线性折射率。此外本发明还提供实施上述物质非线性折射率测量方法的测量装置。与现有技术相比较，本发明的物质非线性折射率测量方法以及测量装置能实现对大厚度样品的高精度测量。
公开/授权文献:
- CN115356285A 一种物质非线性折射率测量方法及其测量装置 公开/授权日：2022-11-18
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/41 | ..折射率；影响相位的性质，例如光程长度 |