基本信息:
- 专利标题： 一种光器件偏振响应测量方法及装置
- 申请号：CN202210737950.7 申请日：2022-06-27
- 公开(公告)号：CN115266029A 公开(公告)日：2022-11-01
- 发明人： 薛敏 , 杨坤钱 , 王琦 , 刘世锋 , 傅剑斌 , 衡雨清 , 刘鸿飞 , 朱楠 , 潘时龙
- 申请人： 苏州六幺六光电科技有限责任公司 , 南京航空航天大学 , 南京航空航天大学苏州研究院 , 苏州六幺四信息科技有限责任公司
- 申请人地址： 江苏省苏州市高新区科技城科灵路78号06号楼5楼; ; ;
- 专利权人： 苏州六幺六光电科技有限责任公司,南京航空航天大学,南京航空航天大学苏州研究院,苏州六幺四信息科技有限责任公司
- 当前专利权人： 苏州六幺六光电科技有限责任公司,南京航空航天大学,南京航空航天大学苏州研究院,苏州六幺四信息科技有限责任公司
- 当前专利权人地址： 江苏省苏州市高新区科技城科灵路78号06号楼5楼; ; ;
- 代理机构： 苏州璟融知识产权代理事务所
- 代理人： 钱滨滨
- 主分类号： G01M11/02
- IPC分类号： G01M11/02 ; G01J4/00
摘要：
本发明涉及微波光子测量技术领域，且公开了一种光器件偏振响应测量方法及装置，包括扫频源、光分束器、频移模块、偏振态发生模块、偏振控制器、待测光器件、光耦合器、偏振分束器、第一光电探测器、第二光电探测器、第三光电探测器、时延模块、接收模块。该光器件偏振响应测量方法及装置，结合光信号移频技术和光矢量分析技术，可实现光器件的光信号的琼斯矢量元素比值的直接测量，进而可构造出光器件的琼斯矩阵。本发明可避免斯托克斯矢量和琼斯矢量的转换，或者穆勒矩阵和琼斯矩阵的转换，使光器件偏振响应的测量和光路偏振性能的分析更加方便。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01M | 机器或结构部件的静或动平衡的测试；未列入其他类目的结构部件或设备的测试 |
| ------G01M11/00 | 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 |
| --------G01M11/02 | .光学性质的测试 |