基本信息:
- 专利标题： 服务质量测试方法、装置以及芯片设备、存储介质
- 申请号：CN202211113788.8 申请日：2022-09-14
- 公开(公告)号：CN115208808A 公开(公告)日：2022-10-18
- 发明人： 刘小群 , 池颖英 , 谢勇 , 贾晓光 , 周晓露 , 张继光 , 王连忠 , 崔文朋 , 郑哲 , 刘瑞
- 申请人： 北京智芯微电子科技有限公司
- 申请人地址： 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼
- 专利权人： 北京智芯微电子科技有限公司
- 当前专利权人： 北京智芯微电子科技有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼
- 代理机构： 北京清亦华知识产权代理事务所
- 代理人： 赵静
- 主分类号： H04L43/55
- IPC分类号： H04L43/55 ; H04L43/0852 ; H04L43/087 ; H04L43/0888 ; H04L43/0829 ; H04L43/08
摘要：
本发明公开了一种服务质量测试方法、装置以及芯片设备、存储介质，涉及通信技术领域，该方法应用于测试接收端，该方法包括：接收测试发起端发送的测试报文，其中，测试报文模仿业务报文生成，且测试报文携带有测试发起端中的TSN芯片添加的第一时刻信息和第一统计信息；利用测试接收端中的TSN芯片给测试报文添加第二时刻信息和第二统计信息；根据第一时刻信息、第一统计信息、第二时刻信息和第二统计信息，得到时间敏感网络的服务质量指标，其中，服务质量指标包括时延、抖动率、吞吐量、丢包率和可用性中的至少一者。以此方式，能够实现更快速、全面地对时间敏感网络服务质量的测试。
公开/授权文献:
- CN115208808B 服务质量测试方法、装置以及芯片设备、存储介质 公开/授权日：2023-01-24
IPC结构图谱:
| H | 电学 |
| --H04 | 电通信技术 |
| ----H04L | 数字信息的传输，例如电报通信 |
| ------H04L43/00 | 用于监测或测试数据交换网络的装置 |
| --------H04L43/50 | .测试装置 |
| ----------H04L43/55 | ..服务质量等级的测试，例如模拟服务使用 |