基本信息:
- 专利标题： 一种大口径光学元件面形检测装置及检测图像畸变校正方法
- 申请号：CN202210610659.3 申请日：2022-05-31
- 公开(公告)号：CN115127473B 公开(公告)日：2023-12-08
- 发明人： 鄂可伟 , 王涛 , 田留德 , 赵建科 , 薛勋 , 李晶 , 昌明 , 周艳
- 申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 申请人地址： 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- 专利权人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 当前专利权人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 当前专利权人地址： 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- 代理机构： 西安智邦专利商标代理有限公司
- 代理人： 赵逸宸
- 主分类号： G01B11/24
- IPC分类号： G01B11/24
摘要：
高精度的非球面镜面形检测是一项关键技术问题，为解决测试结果中存在的畸变问题，本发明基于此提供了一种大口径光学元件面形检测装置及检测图像畸变校正方法，本发明根据待测光学元件的形状选择合适的多项式基函数并生成与之对应的正交矢量多项式集，在光学镜面上粘贴按一定大小及形状分布的标记点，使用生成的正交矢量多项式集求取镜面标记点坐标和标记点图像坐标之间的映射关系，进而将这种映射关系应用于畸变面形上每一个像素点，并通过特定的插值处理，完成镜面面形的畸变校正。本发明提供的方法可广泛应用于大口径光学元件的面形检测中，而畸变校正方法可用于更加普遍
公开/授权文献:
- CN115127473A 一种大口径光学元件面形检测装置及检测图像畸变校正方法 公开/授权日：2022-09-30
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 |
| ------G01B11/00 | 以采用光学方法为特征的计量设备 |
| --------G01B11/24 | .用于计量轮廓或曲率 |