基本信息:
- 专利标题： 试样系统
- 申请号：CN202080093459.4 申请日：2020-12-18
- 公开(公告)号：CN115003994A 公开(公告)日：2022-09-02
- 发明人： 扬·戈特弗里德森 , 托比亚斯·施泰尔瓦根
- 申请人： 伟博泰有限公司
- 申请人地址： 德国凯泽斯劳滕市亚当-霍夫曼大街26号
- 专利权人： 伟博泰有限公司
- 当前专利权人： 伟博泰有限公司
- 当前专利权人地址： 德国凯泽斯劳滕市亚当-霍夫曼大街26号
- 代理机构： 北京之于行知识产权代理有限公司
- 代理人： 何志欣
- 优先权： 102019135601.6 20191220 DE
- 国际申请： PCT/DE2020/101079 2020.12.18
- 国际公布： WO2021/121486 DE 2021.06.24
- 进入国家日期： 2022-07-15
- 主分类号： G01G21/26
- IPC分类号： G01G21/26 ; G01G21/22
摘要：
本发明涉及一种具有多个元件的用于测试测量系统的系统，借此可以形成由多个接连和/或并排布置的容纳件或间隔件组成的行列，其中，所述容纳件具有用于容纳单独的测试砝码的多个凹处。
公开/授权文献:
- CN115003994B 试样系统 公开/授权日：2024-05-24