基本信息:
- 专利标题： 一种双反射面天线面形重构及获取方向图的方法
- 申请号：CN202210532453.3 申请日：2022-05-12
- 公开(公告)号：CN114818432A 公开(公告)日：2022-07-29
- 发明人： 孙伟 , 程志峰 , 郝会乾 , 王铮 , 夏立 , 曹江涛 , 王卓伦
- 申请人： 中国电子科技集团公司第五十四研究所
- 申请人地址： 河北省石家庄市中山西路589号第五十四所天线伺服专业部
- 专利权人： 中国电子科技集团公司第五十四研究所
- 当前专利权人： 中国电子科技集团公司第五十四研究所
- 当前专利权人地址： 河北省石家庄市中山西路589号第五十四所天线伺服专业部
- 代理机构： 河北东尚律师事务所
- 代理人： 王文庆
- 主分类号： G06F30/23
- IPC分类号： G06F30/23 ; G06F30/10 ; H01Q15/14 ; H01Q19/10 ; G06F111/10
摘要：
本发明公开了一种双反射面天线面形重构及获取方向图的方法，属于天线测量技术领域。该方法包括：计算两种主反射面形变偏差值；基于37阶泽尼克多项式，获得泽尼克拟合系数向量；两组系数向量和泽尼克多项式组合，获得主反射面形变重构基本数据；以泽尼克系数向量和泽尼克多项式描述主反射面波前光程差，获得两种主反射面形变相位差与相位影响因子；计算馈源位置偏差下相位影响因子，馈源角度偏差下馈源方向图函数；计算理想天线远场方向图，两种主反射面形变时的远场方向图，馈源位置偏差下远场方向图，获得天线最终远场方向图的基本数据。本发明综合考虑天线结构变形对电性能的影响，提高了绘制天线远场方向图的精度。
公开/授权文献:
- CN114818432B 一种双反射面天线面形重构及获取方向图的方法 公开/授权日：2024-11-05
IPC结构图谱:
| G06F30/23 | 使用有限元方法（FEM）或有限差方法（FDM） |