![大孔径时空联合调制型干涉成像光谱仪的寄生像校正方法](/CN/2022/1/47/images/202210237780.jpg)
基本信息:
- 专利标题: 大孔径时空联合调制型干涉成像光谱仪的寄生像校正方法
- 申请号:CN202210237780.6 申请日:2022-03-11
- 公开(公告)号:CN114693549A 公开(公告)日:2022-07-01
- 发明人: 陈铁桥 , 刘佳 , 苏秀琴 , 冯向朋 , 张耿 , 王爽 , 李海巍 , 杨文涛 , 刘学斌 , 李思远 , 王一豪 , 刘杰
- 申请人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 申请人地址: 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- 专利权人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 当前专利权人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- 代理机构: 西安智邦专利商标代理有限公司
- 代理人: 赵逸宸
- 主分类号: G06T5/00
- IPC分类号: G06T5/00 ; G06T5/50 ; G06T7/11 ; G06T7/136 ; G06T7/66 ; G06T7/70
摘要:
本发明属于寄生像校正方法,为解决目前采用减光片对寄生像进行遮挡,来减弱寄生像对成像质量影响的方法,会降低能量利用率,在采用大孔径时空联合干涉成像光谱仪获取目标信息时,难以满足高能量、高信噪比需求的技术问题,提供一种大孔径时空联合调制型干涉成像光谱仪的寄生像校正方法,通过激光点和其对应寄生像的能量位置关系,能够准确确定干涉成像光谱仪的反射中心、反射系数和寄生像范围,进而使干涉成像光谱仪能够精准定位其图像的寄生像,然后,只需在图像中去除相应的寄生像,即可完成寄生像校正,为干涉成像光谱仪的寄生像校正提供了一种新的思路。
公开/授权文献:
- CN114693549B 大孔径时空联合调制型干涉成像光谱仪的寄生像校正方法 公开/授权日:2024-12-24
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G06 | 计算;推算;计数 |
----G06T | 一般的图像数据处理或产生 |
------G06T5/00 | 图像的增强或复原,如从位像到位像地建立一个类似的图形 |