基本信息:
- 专利标题： 一种智能化高精密测高设备及其测高方法
- 申请号：CN202210172334.1 申请日：2022-02-24
- 公开(公告)号：CN114593679A 公开(公告)日：2022-06-07
- 发明人： 黄鑫路 , 秦佳兴
- 申请人： 苏州东辉光学有限公司
- 申请人地址： 江苏省苏州市工业园区唯亭葑亭大道439号
- 专利权人： 苏州东辉光学有限公司
- 当前专利权人： 苏州东辉光学有限公司
- 当前专利权人地址： 江苏省苏州市工业园区唯亭葑亭大道439号
- 代理机构： 广州市红荔专利代理有限公司
- 代理人： 蒋春梅
- 主分类号： G01B11/02
- IPC分类号： G01B11/02
摘要：
本发明公开了一种智能化高精密测高设备，包括工作载台，所述工作载台上设置有产品模块，所述产品模块的下方设置有用于定心夹持的夹持模块，所述夹持模块的一侧设置有粗测模块、精测模块和三轴模块，所述粗测模块用于检测产品位置，所述精测模块用于测量产品高度，所述三轴模块用于带动所述粗测模块和精测模块移动，所述产品模块的上方设置有喷墨标识模块；本发明还提供了该测高设备的测高方法。通过上述方式，本发明能够实现智能找料、精密测高、高点标识等测高动作，测量过程对物料外形、摆放状态、盘高一致性均无要求，大幅度降低对人员技能的依赖性，测量精度高达0.1um，能满足大多数高精密测量需求。
公开/授权文献:
- CN114593679B 一种智能化高精密测高设备及其测高方法 公开/授权日：2023-08-08
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 |
| ------G01B11/00 | 以采用光学方法为特征的计量设备 |
| --------G01B11/02 | .用于计量长度、宽度或厚度 |