![基于高光谱特征量归一化编码表的绝缘子状态检测方法](/CN/2022/1/8/images/202210041688.jpg)
基本信息:
- 专利标题: 基于高光谱特征量归一化编码表的绝缘子状态检测方法
- 申请号:CN202210041688.2 申请日:2022-01-11
- 公开(公告)号:CN114577807B 公开(公告)日:2024-07-30
- 发明人: 罗龙 , 赵云龙 , 刘占双 , 齐鹏文 , 李岩 , 郭培恒 , 翁钢 , 于涛 , 王伟 , 贾明辉 , 王文斌 , 潘超 , 韩婷 , 石岩 , 郑显亚 , 刘丹 , 陈培鑫 , 洪婉婉 , 刘洋 , 马超 , 苏伟 , 杨振
- 申请人: 国网青海省电力公司检修公司 , 国网青海省电力公司 , 国家电网有限公司
- 申请人地址: 青海省西宁市城中区总寨镇城南新城大道131号
- 专利权人: 国网青海省电力公司检修公司,国网青海省电力公司,国家电网有限公司
- 当前专利权人: 国网青海省电力公司检修公司,国网青海省电力公司,国家电网有限公司
- 当前专利权人地址: 青海省西宁市城中区总寨镇城南新城大道131号
- 代理机构: 北京前审知识产权代理有限公司
- 代理人: 张静; 李亮谊
- 主分类号: G01N21/88
- IPC分类号: G01N21/88 ; G01N21/31 ; G06T7/00 ; G06T9/00 ; G06V10/58 ; G06V10/764
摘要:
本发明涉及一种基于高光谱特征量归一化编码表的绝缘子状态检测方法,利用高光谱成像采集待测绝缘子的光谱图像数据以获得反射率‑波长‑空间图像灰度三维数据;所述反射率‑波长‑空间图像灰度三维数据分别通过多个特征运算得到对应多个特征运算的多个特征量;将多个特征量进行归一化运算构成与绝缘子污秽状态具有映射关系的特征量归一化编码表,检索所述特征量归一化编码表以识别绝缘子污秽状态以及可视化重构污秽状态,本方法大幅降低数据运算量实现了快速、准确、高效的绝缘子污秽状态检测,并且可将污秽状态分析结果进行可视化重构,便于电力系统运维人员迅速掌握绝缘子污秽状态和分布情况,准确制定运维策略。
公开/授权文献:
- CN114577807A 基于高光谱特征量归一化编码表的绝缘子状态检测方法 公开/授权日:2022-06-03
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
------G01N21/00 | 利用光学手段,即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
--------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
----------G01N21/88 | ..测试瑕疵、缺陷或污点的存在 |