基本信息:
- 专利标题： 瞬态热阻的模拟系统与方法
- 申请号：CN202210367078.1 申请日：2022-04-08
- 公开(公告)号：CN114441923B 公开(公告)日：2022-06-28
- 发明人： 赵东艳 , 王于波 , 梁英宗 , 陈燕宁 , 肖超 , 张泉 , 付振 , 刘芳 , 林国栋
- 申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网福建省电力有限公司电力科学研究院
- 申请人地址： 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼; ; ;
- 专利权人： 北京智芯微电子科技有限公司,北京芯可鉴科技有限公司,国家电网有限公司,国网福建省电力有限公司电力科学研究院
- 当前专利权人： 北京智芯微电子科技有限公司,北京芯可鉴科技有限公司,国家电网有限公司,国网福建省电力有限公司电力科学研究院
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼; ; ;
- 代理机构： 北京润平知识产权代理有限公司
- 代理人： 肖冰滨
- 主分类号： G01R31/26
- IPC分类号： G01R31/26
摘要：
本发明涉及半导体技术领域，公开一种瞬态热阻的模拟系统与方法。所述模拟系统包括：信号生成装置，用于生成一组激励信号，其中该组激励信号中的不同激励信号具有相同的占空比与不同的周期；测量电路，用于将所述不同激励信号分别施加在IGBT模块的等效热阻模型的两端，以测量所述不同激励信号下的所述等效热阻模型的最大瞬态热阻；以及转换装置，用于将所述不同激励信号下的所述等效热阻模型的最大瞬态热阻转换成所述占空比下的IGBT模块的瞬态热阻曲线。由此，本发明可搭建出一套针对IGBT模块的等效热阻仿真电路，通过改变仿真电路中的脉冲方波激励信号来快速获取IGBT模块的瞬态热阻曲线。
公开/授权文献:
- CN114441923A 瞬态热阻的模拟系统与方法 公开/授权日：2022-05-06
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/26 | .单个半导体器件的测试 |