![一种用于特高频传感器性能校验的系统及方法](/CN/2020/1/243/images/202011215692.jpg)
基本信息:
- 专利标题: 一种用于特高频传感器性能校验的系统及方法
- 申请号:CN202011215692.3 申请日:2020-11-04
- 公开(公告)号:CN114441862A 公开(公告)日:2022-05-06
- 发明人: 贾廷波 , 孙安青 , 杨秀龙 , 许景华 , 岳美 , 王媛 , 尹菲 , 张健 , 许允都 , 杨楠 , 黄文心 , 孙明
- 申请人: 国网山东省电力公司日照供电公司 , 国家电网有限公司
- 申请人地址: 山东省日照市烟台路68号;
- 专利权人: 国网山东省电力公司日照供电公司,国家电网有限公司
- 当前专利权人: 国网山东省电力公司日照供电公司,国家电网有限公司
- 当前专利权人地址: 山东省日照市烟台路68号;
- 主分类号: G01R29/08
- IPC分类号: G01R29/08
摘要:
本发明公开了一种用于特高频传感器性能校验的系统,其包括:吉赫兹横电磁波小室,其上设有馈源头和测量工位,测量工位用于放置待测的特高频传感器;吉赫兹横电磁波小室内设有芯板,且芯板与馈源头连接;矢量网络分析仪,其第一端口与馈源头连接,其第二端口与待测的特高频传感器的输出端连接;其中,矢量网络分析仪输出的参数曲线被用于提取表征特高频传感器性能的特高频传感器的有效高度、包络峰值、包络宽度和振荡时间。相应地,本发明还公开了一种用于特高频传感器性能校验的方法,其包括步骤:(1)搭建上述系统;(2)由矢量网络分析仪输出的参数曲线,提取表征特高频传感器性能的特高频传感器的有效高度、包络峰值、包络宽度和振荡时间。
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01R | 测量电变量;测量磁变量(通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
------G01R29/00 | 不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置 |
--------G01R29/08 | .电磁场特性的测量 |