基本信息:
- 专利标题： 局部放电源光学智能定位方法及装置
- 申请号：CN202111409449.X 申请日：2021-11-25
- 公开(公告)号：CN114414950A 公开(公告)日：2022-04-29
- 发明人： 盛骏 , 陈文通 , 钱肖 , 虞驰 , 吴雪峰 , 刘乃杰 , 方玉群 , 范旭明 , 杨怀仁 , 黄晓峰 , 赵新语 , 王颖剑 , 吴胥阳 , 汪卫国 , 金慧波 , 赵凯美 , 方凯 , 陈亢 , 王翊之 , 洪亮
- 申请人： 国网浙江省电力有限公司金华供电公司
- 申请人地址： 浙江省金华市婺城区双溪西路420号
- 专利权人： 国网浙江省电力有限公司金华供电公司
- 当前专利权人： 国网浙江省电力有限公司金华供电公司
- 当前专利权人地址： 浙江省金华市婺城区双溪西路420号
- 代理机构： 杭州华鼎知识产权代理事务所
- 代理人： 项军
- 主分类号： G01R31/12
- IPC分类号： G01R31/12 ; G06F30/27 ; G06F17/15
摘要：
为了克服现有技术中存在的问题，本发明提出了局部放电源光学定位方法及装置，实现GIL中局放源的精确定位。为达到所述目的，本发明局部放电源光学定位方法，包括：搭建GIL实验检测平台；在GIL实验检测平台中进行GIL局放仿真模型构建，分析光学信号传播特性；构建光学仿真指纹库：对探测点采集到的光辐照度进行数据处理，得到光学仿真指纹库；运用光学仿真指纹库对构造的ReliefF‑ANFIS模型进行匹配训练，并将实验采集的局放光学指纹与局放光学仿真指纹库中的数据进行模式匹配，确定局放源在GIL中的实际位置。本发明这样挑选出的特征避免了传统算法在没有降维的情况下导致算法输入特征过多，出现特征冗余的现象。
公开/授权文献:
- CN114414950B 局部放电源光学智能定位方法及装置 公开/授权日：2024-10-29
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/12 | .测试介电强度或击穿电压 |